PTTC-300型高精度微分頭計量儀器,硬質合金測量面,平面測頭型式,測量范圍0~25mm。該微分頭適用于組合各種精密儀器、設備的微調與測量。(可定制各類非標微分頭)
精密微分頭螺旋測微器計量儀器,硬質合金測量面,平面測頭型式,測量范圍0~25mm。該微分頭適用于組合各種精密儀器、設備的微調與測量。(可定制各類非標微分頭)
精密微分頭螺旋測微器計量儀器,硬質合金測量面,平面測頭型式,測量范圍0~25mm。該微分頭適用于組合各種精密儀器、設備的微調與測量。(可定制各類非標微分頭)
精密微分頭螺旋測微器計量儀器,硬質合金測量面,平面測頭型式,測量范圍0~25mm。該微分頭適用于組合各種精密儀器、設備的微調與測量。(可定制各類非標微分頭)
精密微分頭螺旋測微器計量儀器,硬質合金測量面,平面測頭型式,測量范圍0~25mm。該微分頭適用于組合各種精密儀器、設備的微調與測量。(可定制各類非標微分頭)
PTTC-300型高精度微分頭計量儀器,位移變化讀數:
L=(a+0.001b+0.0001c)-(a0+0.001b0+0.001c0)
a—內筒毫米刻線讀數
b—外筒刻線讀數
c—游標刻線讀數
a0 b0 c0 為相應位移變化前讀數
微分測量頭讀數內筒軸向刻度0.5mm/格
微分測量頭讀數外筒圓周刻度0.005mm/格
微分測量頭精度示值誤差指標分度值0.001mm
精度 ±0.002mm
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