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          高精度微分頭計量儀器

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             PTTC-300型高精度微分頭計量儀器,硬質合金測量面,平面測頭型式,測量范圍0~25mm。該微分頭適用于組合各種精密儀器、設備的微調與測量。(可定制各類非標微分頭)

          精密微分頭螺旋測微器計量儀器,硬質合金測量面,平面測頭型式,測量范圍0~25mm。該微分頭適用于組合各種精密儀器、設備的微調與測量。(可定制各類非標微分頭)

          精密微分頭螺旋測微器計量儀器,硬質合金測量面,平面測頭型式,測量范圍0~25mm。該微分頭適用于組合各種精密儀器、設備的微調與測量。(可定制各類非標微分頭)

          精密微分頭螺旋測微器計量儀器,硬質合金測量面,平面測頭型式,測量范圍0~25mm。該微分頭適用于組合各種精密儀器、設備的微調與測量。(可定制各類非標微分頭)

          精密微分頭螺旋測微器計量儀器,硬質合金測量面,平面測頭型式,測量范圍0~25mm。該微分頭適用于組合各種精密儀器、設備的微調與測量。(可定制各類非標微分頭)



             PTTC-300型高精度微分頭計量儀器,位移變化讀數:

                 L=a+0.001b+0.0001c-(a0+0.001b0+0.001c0)

                         a—內筒毫米刻線讀數

                         b—外筒刻線讀數

                         c—游標刻線讀數

                         a0 b0 c0 為相應位移變化前讀數

          微分測量頭讀數內筒軸向刻度0.5mm/
          微分測量頭讀數外筒圓周刻度0.005mm/
          微分測量頭精度示值誤差指標分度值0.001mm
          精度 ±0.002mm





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